簡介：載流子遷移率測量系統Paios主要用于太陽能電池在穩態，瞬態以及交流條件下的光電性能測量（載流子遷移率測量Photo-CELIV，瞬態光電流測量TPC、瞬態光電性能測量TPV、強度調制光電壓譜IMVS、強度調制光電流譜IMPS以及阻抗IS,CV等量測）為光電器件微觀機理研究提供了有力的測試平臺；多功能一體化高性能瞬態測試平臺，不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程、阻抗譜等，還可以對瞬態光電流譜TPC，瞬態光電壓譜TPV、強度調制光電流譜IMPS、強度調制光電壓譜IMVS等進行測量分析，全面分析器件中的載流子特性和瞬態過程。

可量測器件類型：
     * 無機半導體光電器件，有機半導體光電器件；
     * 有機太陽能電池OPV；
     * 鈣鈦礦太陽能電池Perovskite Solar Cell，鈣鈦礦LED；
     * 無機太陽能電池（例如：單晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太陽能電池）；
     * 染料敏化太陽能電池DSSC；

主要測量功能：

     * 最大功率點MPP、FF、Voc、Isc、VS 光強，遷移率（I-V測試 & I-V-L測試，空間電荷限制電流SCLC法）

     * 載流子濃度，載流子動力學過程（瞬態光電流法 TPC）

     * 載流子壽命，載流子符合動力學過程（瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV）

     * 載流子遷移率（暗注入瞬態法 DIT，單載流子器件&OLED）

     * 串聯電阻，幾何電容，RC時間（電壓脈沖法 Pulse Voltage）

     * 參雜密度，電容率，串聯電阻，載流子遷移率（暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV）

     * 載流子遷移率，載流子密度（光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV）

     * 載流子復合過程，朗之萬函數復合前因子（時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV）

     * 不同工作點的載流子強度，載流子遷移率（注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV）

     * 幾何電容，電容率（MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV）

     * 陷阱強弱度，等效電路（阻抗譜測試 IS）

     * 遷移率，陷阱強弱度，電容，串聯電阻（電容VS頻率 C-f）

     * 內建電壓，參雜濃度，注入勢壘，幾何電容（電容VS電壓 C-V）

     * 陷阱分析（深能級瞬態譜DLTS）

     * 載流子傳輸時間分析（強度調制光電流譜 IMPS）；

     * 載流子復合時間、收集效率等分析（強度調制光光電壓譜IMVS）；

     * 點亮電壓（電流電壓照度特性 I-V-L）

     * 發光壽命，載流子遷移率（瞬態電致發光法 TEL）

     *載流子遷移率（TEL瞬態電致發光，Photo-CELIV線性增壓抽取載流子）

     *OLED/鈣鈦礦LED發光特性測量（發光器件測量）；

測量技術：   

   1）IV/IVL特性：IV和IVL曲線是針對OLED和OPV標準的量測手法，通過曲線可以得到樣品的電流電壓特性關系、電流電壓與光強的特性關系；

*對于有機半導體材料可通過空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等；

   2）瞬態光電流（TPC）：研究載流子動力學過程和載流子密度等；

   3）瞬態光電壓（TPV）：研究載流子壽命和復合過程；

   4) 雙脈沖瞬態光電流（Double Transient Photocurrent）：分析電荷載流子俘獲動態過程；

   5) 暗注入瞬態法（Dark Injection）：對于單載流子器件和OLED，研究其載流子遷移率；

   6) 電壓脈沖法（Voltage Pulse）：串聯電阻、幾何電容和RC效應分析；

   7) 暗態線性增壓載流子瞬態法（Dark-CELIV）：參雜濃度、相對介電常數、串聯電阻、電荷載流子遷移率測量；

   8) 光照線性增壓載流子瞬態法（Photo-CELIV）：提取有機太陽能電池片內載流子遷移率mobility，及載流子濃度分析等；

   9) 時間延遲線性增壓載流子瞬態法（Delaytime-CELIV）：復合動態過程分析和Langevin復合因子分析等；

   10）注入線性增壓載流子瞬態法（Injection-CELIV）：電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析；

   11）MIS-CELIV：載流子遷移率量測

   12）阻抗譜測量（Impedance Spectroscopy）：器件等效電路分析等；

   13）電容頻率測量法（C-f）: 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯電阻測量；

   14）電容電壓測量法（C-V）：內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量；

   15) 深能級瞬態譜（DLTS）：陷阱分析；

   16）強度調制光電流譜（IMPS）：載流子傳輸時間分析；

   17）強度調制光光電壓譜（IMVS）：載流子復合時間、收集效率等分析；

   18）瞬態電致發光測試（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的載流子，磷光壽命測量；